非飽和蒸汽高壓加速老化箱（HAST）是一種用于模擬高溫、高濕及高壓非飽和蒸汽環(huán)境的測試設(shè)備，主要用于對電子、電器、材料等產(chǎn)品進行加速老化試驗，以評估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。以下是其相關(guān)介紹：
技術(shù)特點
精準(zhǔn)控制：采用好的控制系統(tǒng)和傳感器技術(shù)，能精確控制溫度、濕度和壓力參數(shù)，確保測試條件的高度一致性和穩(wěn)定性。如溫度控制精度可達 ±0.5℃，濕度控制精度在 ±2.5% RH 以內(nèi)，壓力控制精度為 ±0.01MPa。
高效加速：相比傳統(tǒng)老化測試方法，可大幅縮短測試時間，能將原本需數(shù)千小時的自然老化過程縮短至數(shù)十小時甚至更短，提高產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)效率。
安全可靠：配備多重安全保護措施，如超溫保護、過壓保護、漏電保護等。同時，內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計，符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗結(jié)露滴水，避免產(chǎn)品受過熱蒸汽直接沖擊。
操作簡便：采用智能化控制系統(tǒng)，操作界面友好，易于設(shè)置和監(jiān)控試驗參數(shù)，用戶可根據(jù)被測產(chǎn)品特性和測試需求，輕松設(shè)定合適的測試條件。
良好密封性：確保試驗箱內(nèi)的高濕高壓環(huán)境不被外界干擾，保證試驗結(jié)果的可靠性。
應(yīng)用領(lǐng)域
電子行業(yè)：用于半導(dǎo)體器件、集成電路、印制電路板等電子產(chǎn)品的可靠性測試，提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計、制造過程中的潛在缺陷，如芯片封裝密封性問題、電路板防潮性能等。
材料科學(xué)領(lǐng)域：用于評估新型材料在高溫高濕高壓環(huán)境下的性能變化和耐久性，為材料的優(yōu)化和改進提供依據(jù)。
汽車電子領(lǐng)域：對汽車電子控制系統(tǒng)、傳感器、連接器等進行加速老化測試，確保其在惡劣的汽車使用環(huán)境下能穩(wěn)定可靠地工作。
